JB4060型表面污染检测仪,适用于α,β辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等X域进行α,β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。
JB4060型表面污染检测仪特点:
进口盖革探测器,探测效率高
可测量α、β、γ、X射线
可移动金属屏可在β/γ混合场中用于区分β和γ
便携式,一体化设计,重量轻
单片机控制,软件功能强
LCD液晶显示,会话式操作界面
计数率显示cpm、cps、μSv/h
电池失效报警
主要技术指标:
计数范围:1~105
显示单位:cpm、cps、μSv/h
探测器:卤素-水淬式盖革-弥勒计数管(进口)。X直径:45mm;云母薄片密度:1.5-2.0mg/cm2
灵敏度:α表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
β表面活度响应>1.7s-1Bq-1cm2
γ≥500CPM/μSv·h-1(对137Cs)
剂量率范围:0.06~2500.00µSv/h
仪器本底:每分钟计数≤60CPM
相对误差:测量范围内相对基本误差≤15%
供电电源:2节1.5v普通5号电池,整机电流≤50mA
温度范围:-10℃~45℃
湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)
尺寸重量:0.7kg;23×13×4.5(cm)