深圳市华芯兆业科技有限公司
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SIM卡介绍:
SIM卡是（Subscriber Identification Module ），也称为用户身份识别卡、智能卡，GSM数字移动电话机必须装上此卡方能使用。在电脑芯片上存储了数字移动电话客户的信息，加密的密钥以及用户的电话簿等内容，可供GSM网络客户身份进行鉴别，并对客户通话时的语音信息进行加密。
SIM网络卡;
SIM网络卡制式就是网络的类型，我国手机常用的网络制式有CDMA手机占用的CDMA 1X，800MHZ频段；GSM手机占用的900/1800/1900MHZ 频段；近两年的GSM 1X双模（即WCDMA)占用的900/1800MHZ频段；3G占用的900/1800/1900/2100MHz频段；4G占用的1920--2170MHZ频段。联通4G目前TD LTE占用的2555-2575MHz，2300-2320MHz频段。
SIM卡类型介绍:
SIM的尺寸分为三种：
标准卡：尺寸为 25mm×15mm×0.8mm；
Micro Sim：俗称小卡，尺寸为12x15mm×0.8mm；
Nano SIM:12.3mm×8.8mm×0.7mm。
引入标准:
Full-size（FF）：ISO/IEC 7810:2003, ID-1
Mini-SIM（2FF）：ISO/IEC 7810:2003, ID-000
Micro-SIM（3FF）：ETSI TS 102 221 V9.0.0, Mini-UICC
Nano-SIM (4FF)：ETSI TS 102 221 V11.0.0
Embedded-SIM：JEDECDesign Guide 4.8, SON-8
SIM卡唯一:
SIM卡在GSM系统中的应用，使卡和手机分离，SIM卡唯一标识一个客户。
一张SIM卡可以插入任何一部GSM手机中使用，
而使用手机所产生的通信费则自己记录在该SIM卡所唯一标识的客户帐上。
SIM卡容量:
SIM卡容量有8K、16K、32K、64K，其中512k以上的大容量的SIM卡统称为STK卡。
Micro SIM卡
Micro SIM卡，也叫做3FF SIM卡即X三类规格SIM，
尺寸为12x15mm×0.8mm，比我们手机中使用的X二类SIM卡规格15x25mm×0.8mm 小了52%，苹果公司生产的产品（iPhone 4S、iPhone4。）（iPad、iPad2. 3G版本）都是使用MicroSIM卡。
Nano SIM卡
Nano SIM卡是4FF标准的SIM卡，由苹果公司X早提出，向欧洲电信标准协会（ETSI）提交。这种NanoSIM卡比MicroSIM卡小三分之一，比起普通SIM卡则小了60%，而且厚度也减少了15%。为12.3mm×8.8mm×0.7mm。
SIM卡产品适用的测试仪器的品牌：
安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE&SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。
SIM卡分为四种：
GSM卡： 供手机厂手机出厂测试，用于测试显示，手机处理器，调解器版本，显示话音加密码，还原通话时间等。
CDMA卡： 供手机厂手机出厂测试，用于用于C网测试显示，手机处理器，调解器版本，显示话音加密码，还原通话时间等。
WCDMA卡： 必须通过仪器测试，且分哪种仪器上测试，一般有三种仪器安捷伦（8960），罗德与施瓦茨（CMU200），安利综测仪。
TD-LTE卡：TD-LTE（CMW5000）手机测试卡micro，nano测试卡，供手机出厂测试，用于测试显示，手机处理器，调解器版本，显示语音加密码，还原通话时间等。如有特殊要求，可提供参数或来样定制。5，并根据路径表计算出发往工作站B的X佳路径：R1->R2->R5->B；并将数据包发往路由器2。登录无线路由器网有的出厂默认登录账户：admin登录密码：admin
手机SIM测试卡:
手机SIM测试卡、手机测试卡，广泛应用于通讯工业生产、测试过程中的使用。配合综合测试仪（安捷伦8960、安立、CMU200、CMW500/TD-SCDMA等）对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中进行相关测试，需要屏蔽外界不良信号电波干忧，手机测试卡可以对外界信号实现信号至仪器到手机的唯一路径。让测试环境更加简洁，从而达到测试的理想效果。主要测试的功能有测试显示,手机处理器,调解器版本,显示话音加密码,还原通话时间，可进行偶合测试，误码率测试等。主要测试卡有移动的GSM、TD-SCDMA,联通的WCDMA、电信的CDMA、CDMA2000/EVDO等网络测试卡、试机卡。
SIM测试卡X势：
我们公司的测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际着名半导体厂商生产的X芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以XCOS系统，全面遵从3G对手机，TD-SCDMA测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用X长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），X芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验
深圳市华芯兆业科技有限公司经X集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008)S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过X电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
